Odaklanış İyon Demeti (FIB) kesitlemesi ile diş dokularına ait içyapıların mikro/nano-analizi

Diş dokuları sert ve kırılgan olduğundan, bu malzemelerin ultramikrotomi veya diğer metotlarla kesitlenmesi ve içyapılarının mikro ve nano analizi problem yaratmaktadır. Bu tür malzemelerin mikroyapılarının bölgesel ve istenilen geometride incelenmesi için FIB-SEM çift demet platformların kullanılması en uygun çözümdür. Çift demet platformları, eşzamanlı olarak yüksek büyütmelere ve yüksek çözünürlüklere varabilen görüntüleme ve elementel analiz imkânı sağlamaktadır. Bu çalışmada, FIB-SEM ile dentin ve mine tabakaları gibi farklı özelliklerdeki diş dokularının içyapılarındaki mikro-/nano-yapısal farklılıkların tespiti sağlanmıştır. Farklı morfoloji ve kimyasal bileşene sahip diş dokularının içyapılarının iyon-kesitlemesi ile incelenmesi ile bu çalışma Türkiye’deki diş hekimliği alanında FIB-SEM platformlarının aktif kullanılması için önemlidir.

Micro/nano analysis of tooth microstructures by Focused Ion Beam (FIB) cross-sectioning

Since dental structures are hard and fragile, cross-sectioning of these materials using ultramicrotomy and other techniques and following micro and nano analysis cause problems. The use of FIB-SEM dual beam platforms is the most convenient solution for investigating the microstructures, site-specifically and in certain geometries. Dual beam platforms allow for imaging at high magnifications and resolutions and simultaneous elemental analysis. In this study, the micro/nano-structural and chemical differences were revealed in dentin and enamel samples. The investigation of dental tissues having different morphologies and chemical components by ion-cross-sectioning is important for the use of FIB-SEM platforms in dentistry in Turkey.

PDF

___

M. Sezen, «Focused Ion Beams (FIB) — Novel Methodologies and Recent Applications for Multidisciplinary Sciences,» %1 içinde Modern Electron Microscopy in Physical and Life Sciences, InTech, 2016.
L. Giannuzzi ve F. Stevie, Introduction to Focused Ion Beams: Instrumentation, Theory, Techniques, and Practice, New York: Springer, 2004.
J. Orloff, M. Utlaut ve L. Swanson, High Resolution focused ion beams, New York: Kluwer Academic Publishers, 2002.
A. M. CA Volkert, «Focused Ion Beam Microscopy and Micromachining,» MRS Bulletin, cilt 32, pp. 389-399, 2007.
S. Kumar, Textbook of dental anatomy and tooth morphology, New Delhi: Jaypee Brothers, 2004.
S. S. Meltem Sezen, «3D Electron Microscopy Investigations of Human Dentin at the Micro/Nano-Scale using Focused Ion Beams based Nanostructuring,» RSC Advances, cilt 5, p. 7196 – 7199, 2015.