Silisyum İnce Filmlerde Taban Malzemelerin Elektronik Kusurlar Üzerine Etkisinin Belirlenmesi

Determination of the Effect of Substrates on Electronic Defects in Silicon Thin Films

Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

2022-Cilt: 26 - Sayı: 1

69-76

Silisyum ince film, PECVD, Elektronik kusurlar, Taban malzeme etkisi

Silicon thin film, PECVD, Electronic defects, Substrate effect

2413

Benzer Makaleler

ŞAİR ÖZDEMİR İNCE’NİN YAZILARI VE YAZARLIĞI

Eskişehir Osmangazi Üniversitesi Sosyal Bilimler Dergisi

Soner Akpınar, Soner AKPINAR

USP Tekniği ile Çeşitli Öncülerin ZnO İnce Filmler Üzerindeki Etkisi

Erzincan Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

Hilal Kübra SAĞLAM, Sevda SARITAŞ, Mehmet ERTUGRUL

Atmosferik Koşullara Bağlı Olarak CH3NH3PbI3 İnce Filmlerin Karanlık ve Fotoiletkenlik Davranışı

Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

Ayşegül TAŞÇIOĞLU, Gökhan YILMAZ

Çevre İçerikli Belgesel Filmlerin Yabancı Dil Olarak Türkçe Öğrenen Öğrencilerin Sözcük Dağarcığı Gelişimine Katkısı Yuva Belgeseli Örneği -

Uluslararası İnsan ve Sanat Araştırmaları Dergisi

Mohammad Asif ALI, Şükrü BAŞTÜRK

CVD VE PECVD TEKNİĞİ KULLANILARAK BAKIR FOLYOLAR ÜZERİNDE GRAFEN NANOYAPILARIN ELDE EDİLMESİ VE KARAKTERİZASYONU

Niğde Ömer Halisdemir Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi

Ozkan BAYRAM, Erdal İĞMAN, Önder ŞİMŞEK

Sinema Tarihi Çalışmaları ile Türk Sinema Tarihi Yazmaları

Türkiye İletişim Araştırmaları Dergisi

YÜKSEK VERİMLİ KRİSTAL SİLİSYUM (c-Si) HETEROEKLEM GÜNEŞ HÜCRELERİ ÜRETİMİ VE KARAKTERİZASYONU

Niğde Ömer Halisdemir Üniversitesi Mühendislik Bilimleri Dergisi

Oda Sıcaklığında SILAR Tekniği İle Üretilen CdO Filmlerinin Kalınlık Farkının Optik Özellikleri Ve Yapısal Morfolojik Üzerindeki Etkisi

Erzincan Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

Mensur ALBAYRAK, Onur KIYAK, Harun GÜNEY