Savaş SÖNMEZOĞLU, Seçkin AKIN

Kapasitans‐Voltaj (C‐V) Yöntemiyle Sb Katkılı TiO2 / n‐Si MIS Yapının Seri Direnç Parametresinin Hesaplanması

The Determination of Series Resistance Parameter of Sb‐Doped TiO2 / n‐ Si MIS Structure by Capacitance‐Voltage (C‐V) Method

Afyon Kocatepe Üniversitesi Fen ve Mühendislik Bilimleri Dergisi

2011-Cilt: 11 - Sayı: 1

1-8

C‐V karakteristiği,  I‐V karakteristiği,  Seri direnç,  Engel yüksekliği, Arayüzey durumları

-

1321

Benzer Makaleler