Ibrahim YÜCEDAĞ

ON THE DENSITY DISTRIBUTION PROFILES OF INTERFACE STATES

Al/SiO2/p-Si (MIS) YAPILARDA ARAYÜZEY DURUMLARININ YOĞUNLUK DAĞILIM PROFİLİ

Engineering Sciences

2009-Cilt: 4 Sayı: 4

518-526

Interface States, Relaxation Time, Conductance Method, Series Resistance, Thin Insulator Layer,

Ara Yüzey Durumları, Gevşeme Zamanı, İletkenlik Yöntemi, Seri Direnç, İnce Yalıtkan Tabaka,

122 150

0