19119

İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı:Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme

Tekstil sektörü, hızla gelişenve Türkiyeihracatının büyükkısmını oluşturan bir sektör haline gelmiştir. Tekstil ürünlerinindış piyasa ile rekabet edebilmesiiçin ürün kalitesinin artması gerekmektedir. Ürün kalitesi ise iplikkalitesine bağlı olarak değişebilmektedir. Bu çalışmada iplik kalitesini belirleyen parametrelerden biri olan iplik düzgünsüzlüğünün kapasitif olarak ölçümü için farksal paralel plaka yöntemine dayanan yeni bir ölçüm devresi önerisi yapılmış ve matematiksel olarak analiz edilmiştir. Paralel plakaların ve analog devrenin tasarım adımları, gerçeklenmesi, deney düzeneği anlatılmış ve ölçüm sonuçları irdelenmiştir.Tasarlanan devre ile düzgünsüzlük ölçümü oldukça hassas şekilde gerçekleştirilmiştir.

PDF

___

[1]Goswami,B.C., Martindale,J.G., Scardino,F.L.1977. Textile Yarns: Technology, Structure and Applications. John Wiley and Sons. New York, 482s.

[2]Gries, T. and Veit, D. Wulfhorst, B. 2015. Textile Technology: An Introduction. Carl Hanser VerlagGmbH & Co. KG, 457s.

[3]Nancy K. Clive, K. Slater. 1974. Simulation of the Electric Field in Evenness-Testing Capacitors, The Journal of The Textile Institute, 65(8), 397-401.

[4]Carvalho, V.,Pinto, J. G., Monteiro, J., Vasconcelos, R. M., Soares, F. O. 2003. On-line measurement of yarn evenness. IEEE International Symposium on Industrial Electronics, 9-11 Haziran, Brezilya, 1059-1064.

[5]Pinto, J. G., Carvalho, V., Monteiro, J. L., Vasconcelos,R. M., Soares, F. O. 2007. Yarn-mass Measurement with 1-mm-length Samples. IEEE Transactions on IndustrialElectronics, 54(2), 1177-1183.

[6]Gang, Y., Entao, Y., Shencun, H., Ning, J. 2016. The research on High Sensitivity and Anti-saturation of CapacitanceSensors for Measuring Yarn Evenness. 10th International Conference on Sensing Technology (ICST), 11-13 Kasım, Çin, 1-6.

[7]Hoffmann, D. 1973. Measuring Capacitor. United States Patent, US3754172A, 1-4.

[8]Geiter, P.,Rolf, J. 1999. Methode and Device for Measuring the Solid Proportion of a Material Under Test. European Patent Office, EP0924513A1, 1-10.

[9]Ott, P., Schmid, P. 2008. Device and Method for Examining a Solid, Elongate Product to be Tested. United States Patent, US20080111563A1, 1-11.

[10]Gehrig, R., Phillipp, O., Rolf, J. 2014. Capacitive Measuring Circuit for Yarn Inspection. United States Patent, 8698510, 1-10.

[11]Peters, G., Vries, L. D., Storz, R. 2016. Electrode Assembly for Capacitively Testing an ElongatedTextile Material. World Intellectual Property Organization, WO2016149842A1, 1-21.

[12]Carvalho, V.,Cardoso, P., Belsley, M., Vasconcelos, R. M., Soares, F. O. 2006. Development of a Yarn Evenness Measurement and Hairiness Analysis System. 32nd Annual Conference on IEEE Industrial Electronics, 6-10 Kasım, Fransa, 3621-3626.

[13]Carvalho, V. H., Belsley, M.S., Vasconcelos, R. M., Soares, F. O. 2009. Automatic Yarn Characterization System: Design of a Prototype. IEEE Sensors Journal, 9(8), 987-993.

[14]Carvalho, V., Belsley, M., Vasconcelos, R., Soares, F. 2011. A comparison of Mass Parameters Determination Using Capacitive and Optical Sensors. Sensors and Actuators A: Physical, 167(2), 327-331.

[15]Sparavigna, A., Broglia, E., Lugli, S. 2004. Beyond Capacitive Systems with Optical Measurements for Yarn Evenness Evaluation. Mechatronics, 14(10), 1183-1196.

[16]Ozkaya, Y. A., Acar, M., Jackson, M. 2005. Digital Image Processing and Illumination Techniques for Yarn Characterization. Journal of Electronic Imaging, 14(2), 023001, 1-13.

[17]Sengupta, A., Roy, S., & Sengupta, S. 2015. Development of a Low Cost Yarn Parameterisation Unit by Image Processing. Measurement, 59, 96-109.

[18]Li, G., Akankwasa, N. T., Zhao, Q., & Wang, J. 2019. A Novel System for Yarn Cross-Section Analysis Based on Dual Orthogonal CCD Sensors. Journal of Natural Fibers, 16(1), 114-125.

[19]Analog Devices. 2019. http://www.analog.com(Erişim Tarihi: 28.02.2019).