Optik İndislerin Spektrofotometrik Ölçüm Değerlerinden Elde Edilmesinde Yeni Bir Yaklaşım

Çok katmanlı kaplamaların spektral geçirgenlik ve yansıtma değerlerinin hesaplanması kaplama malzemelerinin kırma indisleri ile söndürme katsayılarının bilinmesini gerektirmektedir. Bunun için her seferinde yalnızca bir malzemenin belirli bir kalınlıkta kaplanmasıyla oluşturulan tek katmanlı kaplamalı camların spektrofotometrik geçirgenlik ve yansıtma değerlerini ve kaplama katmanının kalınlığını veri alarak, söz konusu malzemenin spektral optik indislerini hesaplayan bir yazılım geliştirilmiştir. Yazılım için içerdiği etkili fonksiyonlar göz önüne alınarak Matlab ortamı seçilmiştir.

A New Approach to Obtaining The Optical Indices From The Values of The Spectrophotometric Measurement

Calculation of spectral transmittance and reflectance values of a multilayer coating need to be known the spectral refractive index and the extinction coefficient values. In order to calculate the spectral optical indices a software was developed. It uses the spectrophotometric transmittance and reflectance values of single layer coatings, each coated only with the material in question, and the thicknesses of these layers.  Considering the effective functions it contains, the software was written in the Matlab programming environment.

___

  • B. Elmas, “Optik İndislerin Spektrofotometrik Ölçüm Değerlerinden Elde Edilmesinde Yeni Bir Yaklaşım”, Mimar Sinan Güzel Sanatlar Üniversitesi, Fen Bilimleri Enstitüsü, Fizik Bölümü, İstanbul/Türkiye, 2014.
  • O. S. Heavens, “Optical Properties of Thin Solid Films, Dover Publications”, Inc. New York, 1991.
  • M. R. Spiegel, “Mathematical Handbook of Formulas and Tables”, Schaum McGraw Hill Company, 1968.
  • G. B. Thomas and R. L. Finney, “Calculus and Analytic Geometry 8th Edition”, Addison-Wesley Publishing Company, 1992.
  • B. Harbecke, “Coherent and Incoherent Reflection and Transmission of Multilayer Structures”, Applied Physics B, 39, 165-170, 1986.
  • E. Aktulga, “İnce filmler için Spektrofotometrik Ölçümlere Dayalı Optik Karakterizasyon Yöntemleri”, MSÜ Fen Edebiyat Fakültesi Dergisi, 2000.