NRW Metodu İle Malzemelerin Elektromanyetik Parametrelerinin Bulunması

NRW algoritması, malzeme karakterizasyonunda kullanılan yansıma ve geçiş ölçüm tekniğinin hesaplama yöntemlerinden birisidir. Bu çalışmada, NRW algoritması MATLAB programında yazılan bir kod ile oluşturulmuştur ve bu program CST benzetim sonuçlarından elde edilen saçılma parametrelerini girdi olarak kullanmaktadır. Benzetimlerde dikkat edilecek en önemli nokta referans düzlemi tanımlanmasıdır. Bu düzlem malzemelerin iki yüzeyi olacak şekilde seçilir. Referans düzlemi tanımlanmadan yapılan benzetimlerin, literatürde bilinen değerlerden oldukça farklı sonuçlar verdiği gözlemlenmiştir. Referans düzlemi seçilerek yapılan benzetimlerde, seçilen dielektrik ve manyetik malzemelerin R, X ve Ku frekans bantlarında CST benzetimleri yapılmış ve elde edilen sonuçlar MATLAB kodunda girdi olarak kullanılmıştır. Elde edilen έr (dielektrik sabiti) ve  έr (kayıp terimi) değerleri literatürde bilinen değerleriyle karşılaştırılmıştır.

___

  • Chen L.F., Ong C.K., Neo C.P., Varadan V.V., Varadan V.K., 2004. Microwave Electronics: Measurement and Materials Characterization, John Wiley and Sons, West Sussex, England.
  • Nicolson A.M., Ross G.F., 1970. Measurement of The Intrinsic Properties of Materials by Time Domain Techniques. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements VOL. IM-19, No.4.
  • Weir W.B., 1974. Automatic Measurement of Complex Dielectric Constant and Permeability at Microwave Frequencies. Proceedings of The IEEE VOL. 62, No.1.
  • Boughriet A.H., Legrand C., Chapoton A., 1997. Noniterative Stable Transmission/Reflection Method for Low-Loss Material Complex Permittivity Determination. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques VOL. 45, No.1.
  • Baker-Jarvis J., Geyer R.G., Domich P.D., 1992. A Nonlinear Least Squares Solution with Causality Constraints Applied to Transmission Line Permittivity and Permeability Determination. IEEE Transactions on Instrumentation and Measurements VOL. 41, No.5.
  • Baker-Jarvis J., Vanzura E.J., Kissick W.A., 1990. Improved Technique for Determining Complex Permittivity with the Transmission/Reflection Method. IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques VOL. 38, No.8.
  • Baker-Jarvis J., 1990. Transmission/Reflection and Short-Circuit Line Permittivity Measurements. NIST Technical Note, National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO.
  • Baker-Jarvis J., Janezic M.D., Grosvenor J.H.Jr., and Geyer R.G., 1993. Transmission/Reflection and Short-Circuit Line Methods for Measuring Permittivity and Permeability. NIST Technical Note 1355, National Institute of Standards and Technology, Boulder, CO.
  • Balanis C.A., 1989. Advanced Engineering Electromagnetics, John Wiley and Sons, West Sussex, England.