RIDGE REGRESYON-RIDGE ANALİZ İLİŞKİSİ VE YAPILAN ÇALIŞMALARIN İÇERİKLERİ

Çoklu Doğrusal Regresyon Modellerinde parametre tahminlerinin bulunmasında en yaygın olarak kullanılan yöntem En Küçük Kareler Yöntemidir. Ancak, eğer açıklayıcı değişkenler arasında Çoklu Doğrusal Bağlantı varsa EKK tahminleri çok büyük varyanslara sahip ve dolayısıyla anlamsız sonuçlar vermektedir. Bunların ters işaretli olmaları da mümkündür. Ridge Regresyon Yöntemi EKK yöntemine alternatif bir metod olarak geliştirilmiştir. Modelde Çoklu Doğrusal Bağlantı varsa bu yöntem sapmak fakat anlamlı ve tutarlı tahmin sonuçları vermektedir. Bu makalede Ridge Regresyon Yönteminin tarihi gelişimi ve yöntem üzerine yapılan bir kısım uygulama örnekleri İncelenmektedir.

___

  • Banerjee K.S. and Carr R.N., "A CQmment on Ridge Regression Biased Estimation for Non orthogonal Problems'', Technome-trics, Vo1.13, No.4, November 1971 , s.895-898.
  • Diane I. Gibbons, "Some Characterizations Commun. Statist. Theor. Meth, 13 (2), 173-182, 1984.
  • Gene H.Golub, Michael Heath, Grace Wahba, "Generalized Cross-Vahdation as a Method for Choosing a Good Ridge Parameter", Technometrics Vol.21, No.2, May, 1979.
  • Hoer| E.A- Kennard R.W, Ridge Regression - 198o, Advances, "Algorithms and Applications", American ıouinaı of Mathematicat and Management Sciences, .1981, Vo|.1, No.1
  • A * !İ°ecrl RW' ’ "Ridge Ana|ysis 25 Years Later", The American Statistician August 1985, Vol.39, No.3. ’
  • Masua Nomura, "On The Almost Unbiased Ridge Regression Estimator" Commun. Statist. - Simula, I7 (3), 729-743, I988
  • Rawlıngs, Applied Regression Analysis, 1988, Broks Gole, California.
  • _. Roger W. Hoerl, "The Application of Ridge Techniques to Mixture Data-Ridge Analysis", Technometrics, May 1987, Vo.29, No.2, s.161-172.
  • T.D.Dwivedi,V.K.Srivastava, R.L.HalI, "Finite Sample Properties of Ridge Estımators , Technometrics, Vol.22, No.2, May 1980. Tje-San Lee and Don B. Chambell, "Selecting The Optimum K in Ridqe Regression", Commun Statist-Theory Meth., I4 (7), 1589-1604, 1985
  • VV.H.Carter and V.M.Chinchilli, R.H.Myers, E.D.Chambell, "Confidance Intervals md an Improved Ridge Analysis of Response Surfaces" Technometrics, November 1986, Vol.28, No.4.