Bu çalışmada, Ankara Üniversitesi Kreiken Rasathanesi’nde bulunan T40 Kreiken Teleskobu'na bağlı ortalama 15000 çözünürlüklü echelle tayfçekeri kullanılarak KIC6670812 örten değişen sisteminin tayfsal gözlemleri yapıldı ve bu tayflar üzerinden sistemin dikine hız eğrisi elde edildi. Dikine hız eğrisi ile birlikte, sistemin Kepler Uzay Teleskobu tarafından elde edilen yüksek duyarlıklı ışık eğrileri arasından seçilen simetrik yapılı bir ışık eğrisi eş zamanlı olarak analiz edildi ve KIC6670812 örten değişen sisteminin mutlak parametreleri literatürde ilk kez belirlendi. Bununla birlikte, aynı tayfçeker ile alınan tayflar kullanılarak Doppler Görüntüleme Tekniği yardımıyla bileşenlerin soğuk leke kaynaklı yüzey parlaklık dağılımları modellendi.