Şemsettin ALTINDAL, Adem TATAROĞLU, Kemal ÇOLAKOĞLU, İlbilge DÖKME

The effect of interface state density on I-V and C-V characteristics of AI-SiO2-p/Si (MIS) type Schottky diodes

AI-SiO2-p/Si (MYY) tipi Schottky diotlarında arayüzey durumlarının I-V ve C-V karakteristikleri üzerine etkisi

Fırat Üniversitesi Fen ve Mühendislik Bilimleri Dergisi

2001-Cilt: 13 - Sayı: 1

135-140

56 62