BAHADIR SAYINCI

Poliasetal (POM) Meme Plakalarının Orifis Geometrisinde Üretim Kusurlarının Eliptik Fourier Tanımlayıcılarıyla Tespiti

Detection of Manufacturing Defects on Orifice Geometry of Polyacetal (POM) Nozzle Discs by Using the Elliptic Fourier Descriptors

Uludağ Üniversitesi Ziraat Fakültesi Dergisi

2016-Cilt: 30 - Sayı: 1

57-73

80 99