Mehmet Mete ÖZTÜRK, Bahadır DOĞAN

Ni-Ti Akıllı Alaşım İnce Filmin Sıcaklığa Bağlı X-Ray Kırınımı ile Karakterizasyonu ve Faz Dönüşümü Tespiti

Characterization of NiTi SMA Thin Film by Temperature Dependent X-Ray Diffraction and Identification of Phases

Bilecik Şeyh Edebali Üniversitesi Fen Bilimleri Dergisi

2019-Cilt: 6 - Sayı: 2

1-11

Shape Memory Alloy, NiTi Thin Film, X-Ray Diffraction

91 103