Mehmet Can ÖZDEMİR, Ömer SEVGİLİ, İkram ORAK, Abdülmecit TÜRÜT

Arayüzey Doğal Oksit Tabakalı Al/p-Si/Al Yapıların Dielektrik Karakteristiklerine Ölçüm Frekansının Etkileri

The Effect of Measurement Frequency on Dielectric Characteristics in Al/P-Si Structures with Interfacial Native Oxide Layer

Iğdır Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi

2020-Cilt: 10 - Sayı: 1

91-100

Metal/oksit tabaka/yarıiletken (MOS), Schottky diyotlar, Özellikler, kapasite-kondüktans, Dielektrik Spektroskopi

Metal/oxide layer/semiconductor (MIS), Schottky diodes, Dielectric Properties, Capacitance-conductance, Dielectric Spectroscopy

18232